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徕卡Leica DM6 M LIBS集成激光光谱材料分析二合一系统

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  • 产品详情

  徕卡集成激光光谱材料分析二合一系统-Leica DM6 M  LIBS性能
徕卡材料分析二合一-DM6 M LIBS-1
 • DM6 M LIBS系统将光镜观察与元素分析合二为一
 • 目视和化学材料检验,微观结构成分分析,与电镜方法相比节省90%
    的时间
 • 材料分析无需SEM样品制备,无需系统调节,无需重新定位
 • 减少工作流程,将工作流程精简至只有一个步骤,以结果为重点
 • 多种工具组合起来分析样品的显微结构成分,1秒钟内即获足够的数据
 • 元素或材料通过其特征光谱来识别
 • 组件清洁度分析可快速获取颗粒成分和结构数据,做出定性分析
 • 微观结构评估,更大限度减少了SEM/EDS高昂的样品制备成本
 • 地质科学、电子行业、新电子材料、涂层等领域均有典型应用
 • 化学分析研究利器,DM6 M LIBS 解决方案运用激光诱导击穿光谱  
     (LIBS)使定性化学分析成为可能
 • 对已有DM6000 M 或 DM6 M显微镜可直接改装升级为DM6 M LIBS
    二合一系统,大大节约成本
 徕卡LIBS仪器优点
徕卡材料分析二合一-DM6 M LIBS-2
 • 仪器的高可靠性
 • 无需样品制备的远程元素分析
 • 可在同一点重复激光脉冲去除样品的灰尘和风化层
 • 可对多元素同时分析
 • 低检出限,可检测微量元素
 • 效率高,快速分析能力
 • 只需几秒钟一次激发照射即可获得用于分析的光谱
 • 分析时间非常短,功耗低
 • 直径小于0.6mm的小分析点尺寸
 • 识别水和/或水合矿物的能力

 徕卡集成激光光谱材料分析二合一系统-Leica DM6 M  LIBS相比SEM/EDS的特点
对比项目  DM6 M  LIBS SEM/EDS
颜色
效率 很高 较低
样品制 无需制备 需要制备
检出限 100PPM(0.01%) 5000PPM(0.5%)
真空 需要
样品尺寸 较小
相鉴定 快速
逐层 不能
操作 简单 较难
元素定量 定性 半定量
样品损伤 微损伤 无损伤
放大倍率 较低


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