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应用于红外测温或红外成像或监控、遥测等光学系统 | |||
技术要求 | 商业级 | 精密级 | 高精密级 |
尺寸范围 | 1-600mm | 2-600mm | 2-600mm |
直径公差 | 土0.1mm | 土0.025mm | 土0.01mm |
厚度公差 | 土0.1mm | 土0.025mm | 土0.01mm |
中心偏差 | ±3′ | ±1′ | ±30′′ |
表面质量 | 60-40 | 40-20 | 20-10 |
表面精度 | 1.0λ | λ/10 | λ/20 |
镀 膜 | 8-12μm T >95% | ||
倒 边 | 0.1-0.5mm*45° | ||
材 料 | 单晶硅 | ||
| 直径8 | 焦距9 | 厚度1.1 | 材料单晶硅 |
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