点击图片查看原图环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试根据用户不同温湿度环境测试需求，可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等，对器件的寿命测试环境进行控制。
其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。
系统特点
避免高温对硅光电测试影响的设计方案
硅光电二极管工作温度范围-20-70℃，并且随着温度的改变，硅光电二极管光电流转换效率，以及暗态电流都会改变，直接造成相对 亮度测量不准确。即使是耐高低温环境的硅光电二极管，但在*的高低温环境下工作，也会*缩短其使用寿命。 为避免硅光电二极管的温度影响因素，同时保证使用寿命，将硅光电放置在室温环境的测试机柜内部，通过光纤把高温老化试验箱内 的器件发光传导过来，进行测量。
环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试参数
温度范围： -40～100 ℃ （标准型，其它温度范围可订制）
温度均匀度：±2.0℃
温度波动度： ± 0.5℃
温度精度：1 ℃
升温速度： 1.0～3.0℃/min
降温速率： 0.7～1.2℃/min
湿度范围：30%～98%RH （标准型，其它湿度范围可订制）
湿度波动度：±1.5％R.H
湿度偏差：±2.5％R.H
软件功能
（1） 测量模式：恒压、恒流、恒亮模式
（2） 测量数据：测量时间、样品信息、电流、电压、光感电压、预估寿命、亮度衰减比、温度
（3） 测量图表：衰减比实时电流/电压/衰减曲线
（4） 测量时间：三个时间段设计，每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
（5） 发光点测量的独立性：每个发光点可以独立设置电压或电流等参数，共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
（6） 光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或 更换其中几片产品
（7） 图表实时查询：支持图表在测量过程中实时查询，不必等待测量结束后再看数据和图表
（8） 曲线图：支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据，在图表里显示曲线。
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