（一）产品简介：

基于ARM Cortex-M3微处理器平台的MSG-RTY二极管热逃逸测试电源系统，系统组成采用N+模式，*的ZVZS“零电压”高频开关测试电源技术、+友好的人机对话界面，系统广泛应用于光伏行业、电子元件、二极管生产企业、研究所、实验室等场所。可以帮助您快速的进行项目开发、例试及学习！

（二）解决用户困惑

Ø 因产品品质问题常常收到用户的抱怨

Ø 整机厂等下游终端用户高额的处罚

Ø 传统测试电源输出不稳定，难以满足产线、实验室的使用需求

（三）给用户带来的价值：

Ø 替代进口元器件采购，可以有效降低 20%成本

Ø 帮助用户工程师节约≥N+小时，有效解放双手以创造更多价值

Ø 有效提高试验产品的品质，为厂家创造市场竞争力5%~10%

（四）产品亮点:

Ø 高效率、低损耗、体积小可以胜任各种环境

Ø 采用TI集成控制电路、ON/安森美等功率器件扩展，动态响应≤20ms

Ø 采用ZVZS“零电压”开关电路，有效节能

Ø 友好的人机对话界面，提升操作体验

（五）测试条件

什么是旁路二极管热逃逸（失控）？

作为太阳能组件中的旁路二极管，在反向偏置电流增加的情况下，温度会升高。如果旁路二极管在反向偏置时会产生持续漏电流造成二极管结温增加，最差的情况是温升超过了接线盒的冷却能力。温升和漏电流造成旁路二极管损坏的现象叫做热逃逸（失控）。

旁路二极管热逃逸（失控）测试方法

1.测试条件

a.组件温度：90±2℃（屋顶类组件），75±2℃（开放支架类）

b.正向电流：1.25倍STC下组件短路电流

c.反向偏置电压：数值等同STC下组件开路电压

2.测试方法

a.获取旁路二极管特性数据，在室温（25±5℃）条件下测其反向特性，需覆盖正向电流和反向偏置电压。

b.在室温（25±5℃），给接线盒通正向电流。测量每一个二极管的Tlead，选出温度的旁路二极管。

c.将样品放入环境箱中（温度90℃或者75℃），给旁路二极管通至少40分钟正向电流，直到Tlead稳定在（+0.3℃，-0℃）保持10分钟

d.关闭正向电流，并在10ms内提供反向偏置电压到旁路二极管。继续监测漏电流和二极管温度。大多数情况下，漏电流和Tlead在小范围内上下浮动。临界情况下，需看最后的变化方向，这种情况测试必须持续至少2分钟。

e.从环境箱中取出样品，室温下（25±5℃）测量旁路二极管反向特性，并与原始数据对比。

4判定标准

✔ 如果Tlead和漏电流减少，并且反向特性与实验前无明显差别，此旁路二极管视为通过。

1.提供11.27A正向电流持续一小时

2.一小时后的二极管温度：121.8℃

3.10ms内切换至15.06V反向偏置电压

4.切换后二极管温度：109.0℃<121.8℃。>121.8℃。>

✖ 如果Tlead和漏电流增加，或反向特性与实验前差别明显，此旁路二极管视为失败。

★以上产品选型为常用规格，特殊规格可以定制

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