仪器简介

txrf(全反射x荧光)分析原理是基于x荧光能谱法，但与x射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级x光束以45°角轰击样品，而txrf采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级x光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。

tx2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制mo/w靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。